本設備可測試高溫、低溫、冷熱循環及高低溫交變不同條件的功能。主要用於模擬電子儀器儀錶、新型材料、電工、車輛配件、金屬、電子產品、航空航太材料等在運輸、儲存、使用過程中可能會遇到的嚴酷高溫、低溫；或高溫、低溫檢驗其材料、配件或儀器設備耐高溫、耐寒性能及可能造成的損壞壽命縮減等
Model
CH-D-1000I
內尺寸（WHD)mm
1200×1000×850
外尺寸（WHD)mm
1500×2202×1944
溫度範圍
-120~+150℃
溫度解析度
0.01℃
溫度穩定性
±2℃
冷卻溫度範圍
-85℃-RT
降溫速率
RT(20℃-25℃)降至 -80℃ 45min
RT(20℃-25℃)降至 -85℃ 50min
RT(20℃-25℃)降至 -120℃ 120min
升溫速率
≥3.5℃/min（空載）
